【再創佳績】浙江杭可儀器有限公司獲得“首臺套”證書！
2024/01/12
為深入貫徹省委、省政府關于制造業首臺（套）提升工程的有關要求，省經信廳牽頭組織了2023年度首臺（套）產品認定工作，確定2023年度浙江省首臺（套）裝備292項。
浙江杭可儀器有限公司的LSIC7000 超大規模集成電路老化測試系統在本次認定工作中成功入選，該系統憑借其創新性和技術領先性，在集成電路老化測試領域取得了重大突破。這一認定不僅是對浙江杭可儀器有限公司的認可，更是對浙江省制造業創新能力和技術水平的肯定。
1. 主要功能
支持對FPGA、ARM、DSP、GPU、CPU、AI芯片等超大規模集成電路的壽命評估實驗、車規級芯片出廠老化測試、二篩服務。試驗溫度是室溫+10℃至+150℃ 范圍內的HTOL老化測試，允許實時監測與對比，并支持still向量文件導入設備運行。
2. 產品優勢
TDBl(老化中測試) 技術，支持實時監測元件輸出信號。
支持芯片運行BIST測試和SCAN測試。
兼容美國MCC與韓國DI公司的LOGIC老化設備向量，便于客戶遷移測試向量。
采用硬公制高速連接器，大幅提高測試信號完整性。
采用專用大電流連接器，可靠性、穩定性高。
3. 重要性及必要性
新能源汽車、國內軍工芯片的國產化替代導致半導體老化設備需求在快速增加。
中美貿易摩擦推動國內半導體行業自主可控進程。
LSIC7000超大規模集成電路老化系統可完全代替進口設備，全面實現國產化，為超大規模集成電路器件壽命評估、老化測試提供可靠的工藝設備保障。
4.技術指標
我們有信心，浙江杭可儀器有限公司將以卓越的業績，成為行業的領軍企業，為社會的發展做出更大的貢獻。