點擊咨詢產品光耦老化測試系統(GPIC2004)
該系統可對各種單光耦、雙光耦、四光耦器件進行高溫恒流和恒功率老化，適應輸入端種類：各種雙向輸入型、單向輸入型器件；適應輸出端種類：三極管、達林頓管、可控硅、數字電路等。系統可適用于研究所、微電路器件生產廠等進行各種器件的壽命篩選試驗和二級篩選試驗，適用于小批量多品種的試驗要求。
功能
- 驅動板功能模塊化，由各個模塊實現不同功能，后續更換維修方便
- 可對不同通道數，種類光耦進行測試，通用性強
- 有1024個恒流環，可對每一路單獨校準，實現高精度測試
- 可兼容各種不同型號老化板，實現對不同器件的老化
產品特性
試驗溫區 | 1個 |
試驗溫度 | 室溫+10~200℃ |
老化試驗區 | 16區 |
負載恒流控制范圍 | 1~80mA |
程控精度 | ±(1.0%xRD+2LSB) |
電壓檢測范圍 | 0.1V~120.0V、誤差±(1.0%xRD+2LSB) |
老化通道數 | 16x64=1024 |
漏電流檢測范圍 | 1~100mA |
漏電流檢測精度 | ±(1.0%xRD+2LSB) |
老化模式 | 具有恒流恒功率兩種工作模式 |
恒功率檢測誤差 | ±(3.0%xRD+3mW) |
電源 | 0~60V/40A(8路可選配) |
整機供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 8KW(典型) |
整機重量 | 650KG(典型) |
整機尺寸 | 1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H) |
適用標準
GJB128 GJB33 MIL-STD-75
適用器件
適應于各種單光耦、雙光耦、四光耦器件；各種雙向輸入型、單向輸入型器件；三極管、達林頓管、可控硅、數字電路等