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專精特新“小巨人”企業
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IOL2000
間歇壽命老化測試系統
該系統適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環試驗和恒流功率試驗。系統每個區位風道獨立,充分避免不同區位試驗進程不同對試驗結果造成影響;在實驗過程中,監測器件的電壓、結溫特性,并且提供結溫特性曲線以備后期數據分析。
IOL3000
間歇壽命老化測試系統
該系統適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、T-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環試驗和恒流功率試驗。系統每個區位風道獨立,充分避免不同區位試驗進程不同對試驗結果造成影響;在實驗過程中,監測器件的電壓、結溫特性,并且提供結溫特性曲線以備后期數據分析。
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