點擊咨詢產品超大規模集成電路老化測試系統(LSIC7000)
該系統支持雙溫區，可進行室溫+10℃~+150℃的HTOL老化測試，老化過程中實時檢測被測器件的輸出信號，過程中自動對比向量。
功能
- 每塊老化板提供8路可編程電源 (0.5~10V/0~25A), 電源規格可單獨定制
- 每塊老化板可提供，184路數字信號，其中32路為雙向I/O
- 每個試驗箱可支持最大4KW的熱耗散
- 支持STIL、VCT、VEC格式向量文件直接導入使用
- 支持芯片BIST測試
- 完全兼容DL601H機合的老化板，可即插即用
- 充分的實驗員人體安全考慮設定
產品特性
試驗溫區 | 2個 |
試驗溫度 | 室溫+10°C~+150°C |
老化試驗區 | 16 區/32 槽位 |
數字信號頻率 | 12.5MHz |
向量深度 | 16Mbit |
信號通道數 | 184路(其中32路雙向//O) |
時鐘組數 | 8組 |
信號周期 | 80-20480nS |
時序邊沿 | 雙沿 |
PIN格式 | 8種 |
信號輸入輸出電壓 | 0.5~5V |
VO驅動電流 | DC=50mA、瞬時電流≥80mA |
DPS電源 | 0.5~6.0V/25A(可選配10V/5A) |
DPS電源數 | 8個(可根據客戶需求配置) |
DPS輸出保護 | OVP(過壓)、UVP(欠壓)、CP(過流) |
整機供電 | 三相AC380V+38V |
最大功率 | 35KW(典型) |
整機重量 | 1600Kg(典型) |
整機尺寸 | 3200mm(W)x1675mm(D)x2370mm(H) |
適用標準
MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101
適用器件
適用于通用超大規模集成電路、SoC、FPGA、ARM、AI、低功率GPU等超大規模集成電路